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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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發(fā)布時(shí)間:2025-04-03
關(guān)鍵詞:行星架三坐標(biāo)檢測方法,行星架三坐標(biāo)檢測范圍,行星架三坐標(biāo)試驗(yàn)儀器
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來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測試暫不接受委托,望見諒。
行星架三坐標(biāo)檢測涵蓋六大核心參數(shù):
1. 行星輪安裝孔位精度:測量各安裝孔實(shí)際中心距與理論值的偏差量
2. 中心軸孔同軸度:評估輸入/輸出軸孔的軸線重合度誤差
3. 孔組位置度:驗(yàn)證多組行星輪安裝孔的圓周均布精度
4. 端面平面度:檢測行星架裝配基準(zhǔn)面的平整性指標(biāo)
5. 孔徑垂直度:控制安裝孔軸線與基準(zhǔn)面的正交角度偏差
6. 孔徑尺寸公差:精確測定各功能孔的直徑實(shí)際加工值
三坐標(biāo)測量系統(tǒng)需覆蓋行星架全部關(guān)鍵特征要素:
- 行星輪系安裝區(qū)域:包含3-5組行星輪安裝孔的孔徑(φ20-φ80mm)、孔間距(80-300mm)及相位角(120°±30')
- 中心軸配合區(qū)域:輸入/輸出軸孔的直徑公差(H7級)、圓度(≤0.008mm)及表面粗糙度(Ra0.8)
- 端面基準(zhǔn)區(qū)域:裝配接觸面的平面度(0.01mm/m2)及表面波紋度(Wt≤5μm)
- 輔助定位結(jié)構(gòu):包括定位銷孔(±0.005mm)、鍵槽對稱度(0.015mm)等輔助特征
采用符合VDI/VDE 2617標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)范測量流程:
1. 基準(zhǔn)坐標(biāo)系建立:以端面為Z軸基準(zhǔn),主定位孔確定X/Y原點(diǎn)
2. 測頭系統(tǒng)配置:根據(jù)特征尺寸選用φ3mm紅寶石測針或光學(xué)掃描探頭
3. 特征元素測量:
- 圓柱孔采用4點(diǎn)法采點(diǎn)(直徑>30mm時(shí)增至8點(diǎn))
- 平面測量按網(wǎng)格布點(diǎn)(間距≤10mm)
- 同軸度測量需同步采集兩軸孔數(shù)據(jù)
4. 數(shù)據(jù)補(bǔ)償處理:對溫度波動(±1℃)引起的熱變形進(jìn)行實(shí)時(shí)補(bǔ)償
5. 誤差分析計(jì)算:基于最小二乘法進(jìn)行形位公差評定
6. 重復(fù)性驗(yàn)證:關(guān)鍵參數(shù)執(zhí)行3次重復(fù)測量取均值
行星架三坐標(biāo)檢測需配置正規(guī)測量系統(tǒng):
- 主機(jī)系統(tǒng):橋式三坐標(biāo)測量機(jī)(CMM),測量范圍≥1500×1000×800mm
- 測頭系統(tǒng):配備TP200接觸式測頭與VAST XT掃描傳感器
- 控制系統(tǒng):采用UMESS Universal正規(guī)測量軟件平臺
- 輔助裝置:包含花崗巖基座(00級)、空氣彈簧隔振系統(tǒng)(隔振效率>95%)
- 校準(zhǔn)體系:配備AA級標(biāo)準(zhǔn)球(?25.4mm±0.075μm)及步距規(guī)(500mm/級差0.1μm)
- 環(huán)境監(jiān)控:集成溫度補(bǔ)償模塊(分辨率0.01℃)、振動監(jiān)測儀(采樣率1kHz)
1、咨詢:提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測
6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件