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發(fā)布時間:2024-01-08
關(guān)鍵詞:GB/T 15246-2022 微束分析 硫化物礦物的電子探針定量分析方法
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來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用電子探針進(jìn)行硫化物礦物定量分析的標(biāo)準(zhǔn)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于在電子束轟擊下穩(wěn)定的硫化物以及砷化物、銻化物、鉍化物、碲化物、硒化物的電子探針定量分析。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于以X射線波長分光譜儀進(jìn)行的定量分析;其主要內(nèi)容和基本原則也適用于以X射線能譜儀進(jìn)行的定量分析。
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T15074電子探針定量分析方法通則
3.1
硫化物礦物sulfide minerals由硫構(gòu)成陰離子團(tuán)的金屬礦物。
3.2
光片polished section將巖石或礦石樣品切割成一定大小,并將待觀測面磨平、拋光的試樣。
3.3
光薄片polished thin section將巖石或礦石樣品切割成一定大小,減薄至能透過光線,并雙面磨平、拋光的試樣。
3.4
砂光片slade grains將顆粒樣品鑲嵌在導(dǎo)電或非導(dǎo)電的鑲嵌物中或制在玻璃薄片上并進(jìn)行磨平拋光的試樣。